- Nazwa przedmiotu:
- Modelowanie systemów pomiarowych
- Koordynator przedmiotu:
- dr hab. Roman Szewczyk, prof. nzw. PW, dr inż. Jacek Salach
- Status przedmiotu:
- Obowiązkowy
- Poziom kształcenia:
- Studia II stopnia
- Program:
- Mechatronika
- Grupa przedmiotów:
- Obowiązkowe
- Kod przedmiotu:
- brak
- Semestr nominalny:
- 2 / rok ak. 2017/2018
- Liczba punktów ECTS:
- 4
- Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
- 1) Liczba godzin bezpośrednich 36, w tym:
a) wykład - 15
b) egzamin - 2
c) projekt - 15
d) konsultacje - 4
2) Praca własna studenta 66, w tym:
a) przygotowanie do zaliczenia - 16
b) opracowanie projektu - 50
Suma: 102 (4 ECTS)
- Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
- 1) Liczba godzin bezpośrednich 34, w tym:
a) wykład - 15
b) egzamin - 2
c) projekt - 15
d) konsultacje - 4
suma 36 (1,5 ECTS)
- Język prowadzenia zajęć:
- polski
- Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
- O charakterze praktycznym
c) projekt - 15
d) konsultacje - 2
b) opracowanie projektu - 50
Suma: 67 (2,5 ECTS)
- Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
-
- Wykład225h
- Ćwiczenia0h
- Laboratorium0h
- Projekt225h
- Lekcje komputerowe0h
- Wymagania wstępne:
- Wstęp do technik komputerowych. Podstawy programowania. Podstawy metrologii. Miernictwo elektryczne. Inteligentna aparatura pomiarowa.
- Limit liczby studentów:
- 30
- Cel przedmiotu:
- W wyniku zajęć studenci posiądą umiejętność samodzielnego zaprojektowania modelu systemu pomiarowego i analizy jego toru pomiarowego.
- Treści kształcenia:
- Budowa systemu. Podstawowe elementy składowe systemu - charakterystyka, sensory, przetworniki, systemy transmisji danych. Przepływ informacji w systemie pomiarowym.
Zapoznanie z podstawowymi programami umożliwiającymi modelowanie systemów pomiarowych. Ocena przydatności
Parametry charakteryzujące cechy użytkowe elementów składowych systemu pomiarowego np. czujnika, przetwornika, kondycjonera. Uwzględnienie ich w modelu. Wpływ zakłóceń na system pomiarowy
Ogólne wytyczne projektu. Parametry znaczące - konieczne do uwzględnienia w modelu. Parametry mniejszej wagi – można nie uwzględniać w modelu.
Analiza przetwarzanego sygnału w systemie pomiarowym. Charakterystyczne punkty pomiaru sygnału w systemie i ich wartości.
Zapoznanie z środowiskiem (programem ) użytym do modelowania systemu pomiarowego, podstawowe funkcje. Zapoznanie i omówienie indywidualnych projektów systemu pomiarowego.
Komputerowe modele podstawowych elementów systemów pomiarowych; generatory, czujniki, przetworniki.
Projekt systemu pomiarowego, dobór czujników i przetworników. Wybór struktury transmisji danych w systemie. Opracowanie modelu
Weryfikacja poprawności działania modelu. Analiza toru sygnału pomiarowego.
- Metody oceny:
- Egzamin z treścią wykładu. Zaliczenie projektowania na bazie opracowanego przez studentów projektu.
- Egzamin:
- tak
- Literatura:
- T. Szmuc, Modele i metody inżynierii oprogramowania systemów czasu rzeczywistego, UWND AGH, Kraków 2001.
E. Michta, Modelowanie komunikacyjne sieciowego systemu pomiarowo-sterującego, WPZ, Zielona Góra 2000.
K. Sacha: Projektowanie oprogramowania systemów wbudowanych,Politechnika Warszawska, Prace Naukowe Elektronika z. 115,Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa, 1996.
A. M. K. Cheng: Real-Time Systems, Scheduling, Analysis, and Verification, John Wiley & Sons 2002.
W. Nawrocki, Komputerowe systemy pomiarowe, Wydawnictwa Komunikacji i Łączności, Warszawa 2002.
R. Rak, Systemy informacyjno-pomiarowe, podręcznik multimedialny, Ośrodek Kształcenia na Odległość Politechniki Warszawskiej – OKNO, Warszawa 2005.
J. Gajda, M. Szyper, Modelowanie i badania symulacyjne systemów pomiarowych, Wydawnictwa AGH, Kraków 1998.
- Witryna www przedmiotu:
- brak
- Uwagi:
Efekty uczenia się
Profil ogólnoakademicki - wiedza
- Efekt MSP_W01
- Ma uporządkowaną wiedzę na temat czujników stosowanych w urządzeniach mechatronicznych
Weryfikacja: Egzamin. realizacja projektu
Powiązane efekty kierunkowe:
K_W08
Powiązane efekty obszarowe:
T2A_W03, T2A_W04
Profil ogólnoakademicki - umiejętności
- Efekt MSP _U01
- Potrafi samodzielnie opracować model układu pomiarowego oraz dokonać weryfikacji i optymalizacji działania systemu
Weryfikacja: Egzamin
Powiązane efekty kierunkowe:
K_U01, K_U03, K_U12
Powiązane efekty obszarowe:
T2A_U01, T2A_U04, T2A_U10, T2A_U11, T2A_U15, T2A_U16
Profil ogólnoakademicki - kompetencje społeczne
- Efekt MSP _K01
- Potrafi współpracować w zespole projektowym na różnych stanowiskach.
Weryfikacja: Projekt
Powiązane efekty kierunkowe:
K_K01, K_K04
Powiązane efekty obszarowe:
T2A_K01, T2A_K03, T2A_K04, T2A_K05