Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Metrologia techniczna
Koordynator przedmiotu:
Prof. dr hab. inż. Marek Dobosz
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia I stopnia
Program:
Mechatronika
Grupa przedmiotów:
Obowiązkowe
Kod przedmiotu:
MTE
Semestr nominalny:
4 / rok ak. 2012/2013
Liczba punktów ECTS:
3
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
Wykład 15, ćwiczenia laboratorium 15, przygotowanie do zajęć laboratoryjnych 5, zapoznanie się z literaturą 5, opracowanie sprawozdań 5, przygotowanie do zaliczeń 5. Razem 55h =2 ECTS.
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
Wykład 15, ćwiczenia w laboratorium 15. Razem 30h = 1ECTS
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
Obecność w laboratorium 15, przygotowanie do zajęć laboratoryjnych 5, opracowanie sprawozdań 5. RAZEM 25h =1ECTS
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład15h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium15h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Podstawy metrologii, Pomiary i analiza wymiarowa, Miernictwo elektryczne i elektroniczne, Podstawy inżynierii fotonicznej. Wymagana znajomość podstaw projektowania urządzeń mechatroniki, podstaw technik wytwarzania oraz podstaw automatyki, robotyki i informatyki.
Limit liczby studentów:
350
Cel przedmiotu:
Znajomość budowy, działania i własności metrologicznych urządzeń pomiarowych oraz procedur i technik pomiarowych, ukierunkowanych na pomiary i kontrolę wymiarową, w tym mikro- i makrogeometrię powierzchni przedmiotów stosowanych przemyśle maszynowym, precyzyjnym, motoryzacyjnym, lotniczym, aparaturowym i sprzętu gospodarstwa domowego. Umiejętność tworzenia aparaturowych systemów stosowanych w kontroli jakości procesów i wyrobów.
Treści kształcenia:
Wykład: Przetworniki i aparatura pomiarowa: Analogowe przetworniki przemieszczeń. Przetworniki przemieszczeń ze zliczaniem impulsów i kodowe. Współrzędnościowe maszyny pomiarowe Roboty i centra pomiarowe. Techniki pomiarów wybranych wielkości geometrycznych: Pomiary za pomocą długościomierzy i wysokościomierzy. Pomiary mikrogeometrii powierzchni. Pomiary odchyłek kształtu. Laboratorium: Pomiary struktury geometrycznej powierzchni za pomocą profilometrów. Pomiary odchyłek okrągłości, metodami bezodniesieniowymi - analiza sygnału cyfrowego przy różnej filtracji i powiększeniu. Pomiary średnic otworów przy użyciu długościomierzy. Wyznaczenie niedokładności pomiaru Pomiary precyzyjnego elementu metodą pojedynczych punktów w trybie manulanym i CNC na WMP, Pomiary elementu złożonego metodą skaningową. Wyznaczenie wynikowych wymiarów złożonego elementu maszynowego na podstawie pomiarów dokonanych na mikroskopie warsztatowym. Wyznaczenie wynikowych wymiarów złożonego elementu maszynowego na podstawie pomiarów dokonanych przy użyciu wysokościomierza.
Metody oceny:
Laboratorium: Sprawdziany wstępne przed każdym ćwiczeniem. Zalicza ustalona liczba uzyskanych punktów za sprawdzian i za sprawozdanie z ćwiczenia.
Egzamin:
tak
Literatura:
1. W.Jakubiec, J.Malinowski: „Metrologia wielkości geometrycznych”. WNT. Warszawa, 2004. 2. E.Ratajczyk: „Współrzędnościowa technika pomiarowa”. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej. Warszawa,2005. 3. J.Arendarski, J.Gliwa-Gliwiński, Z.Jabłoński, E.Ratajczyk, J.Tomasik, S.Żebrowska-Łucyk: „Sprawdzanie przyrządów do pomiaru długości i kąta”. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej. Warszawa, 2003. 4. J.Arendarski: „Niepewność pomiarów”. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej. Warszawa, 2003. 5. M.Wieczorowski, A.Cellary, J.Chajda: Przewodnik po pomiarach nierówności powierzchni czyli o chropowatości i nie tylko”. Wyd. Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych. Politechnika Poznańska. Poznań, 2003. 6. Liubimov V., Oczoś K.: „Struktura geometryczna powierzchni”. Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej. Rzeszów, 2003.
Witryna www przedmiotu:
http://zmiij.mchtr.pw.edu.pl/przedmiot.php?class_id=20&subj=4&page=5
Uwagi:
Brak

Efekty uczenia się

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Efekt K_W01
Znajomość budowy, działania i własności metrologicznych urządzeń pomiarowych wielkości geometrycznych
Weryfikacja: Zaliczenie egzaminu
Powiązane efekty kierunkowe: K_W11
Powiązane efekty obszarowe: T1A_W02, T1A_W03
Efekt MTE_02
Znajomość budowy przetworników pomiarowych wielkości geometrycznych stosowanych w urządzeniach mechatroniki
Weryfikacja: Egzamin
Powiązane efekty kierunkowe: K_W11
Powiązane efekty obszarowe: T1A_W02, T1A_W03

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Efekt K-U01
Opanowanie procedur i technik w zakresie realizacji pomiarów wielkości geometrycznych
Weryfikacja: Zaliczenie ćwiczeń laboratoryjnych
Powiązane efekty kierunkowe: K_U13, K_U15
Powiązane efekty obszarowe: T1A_U08, T1A_U16, T1A_U09, T1A_U16
Efekt MTE_U02
Opanowanie podstawowych umiejętności w zakresie opracowania wyników pomiarów w szczególności wielkości geometrycznych
Weryfikacja: Zaliczenie ćwiczeń laboratoryjnych
Powiązane efekty kierunkowe: K_U11
Powiązane efekty obszarowe: T1A_U02, T1A_U08, T1A_U09

Profil ogólnoakademicki - kompetencje społeczne

Efekt MTE_K01
Potrafi współpracować w zespole
Weryfikacja: Zaliczenie laboratorium
Powiązane efekty kierunkowe: K_K04
Powiązane efekty obszarowe: T1A_K03, T1A_K04, T1A_K05