- Name of course:
- Zaawansowane metody badań materiałów/ Advanced Methods of Materials Testing
- Coordinator of course:
- dr hab. inż. Elżbieta Jezierska, prof. PW
- Type of course:
- Compulsory
- Level of education:
- Second cycle studies
- Programme:
- Inżynieria Materiałowa
- Group of courses:
- Kierunkowe
- Code of course:
- ZMBM
- Nominal semester:
- 1 / AY 2021/2022
- Number of ECTS credits:
- 3
- Number of hours of student’s work to achieve learning outcomes:
- Wykłady (30 godzin) zawierają specjalistyczną wiedzę na poziomie zaawansowanym, co wymaga pracy własnej około 3 godziny tygodniowo na jej przyswojenie i utrwalenie. Razem 75 godzin.
- Number of ECTS credits on the course with direct participation of academic teacher:
- 2 punkty ECTS=Wykład 30 godzin, konsultacje z zakresu zrozumienia zaawansowanych metod badawczych, przeprowadzenie egzaminu i sprawdzenie prac egzaminacyjnych.
- Language of course:
- polish
- Number of ECTS credits on practical activities on the course:
- Form of didactic studies and number of hours per semester:
-
- Lecture30h
- Exercise type of course0h
- Laboratory0h
- Project type of course0h
- Computer lessons0h
- Preliminary requirements:
- Wymagane przedmioty poprzedzające : Fizyka, Fizyka Ciała Stałego, Podstawy Nauki o Materiałach, Metody Badania Materiałów oraz równolegle prowadzony wykład z Krystalografii Stosowanej
- Limit of students:
- brak
- Purpose of course:
- Przekazanie studentom aktualnej wiedzy w zakresie zaawansowanych metod badania materiałów, możliwości i ograniczeń różnych metod badawczych opartych na wykorzystaniu specjalistycznej aparatury do badań strukturalnych
- Contents of education:
- Własności materiałów w skali nano-, mikro- i makro-metrycznej. Zaawansowane metody mikroskopowe, dyfrakcyjne, cieplne i spektroskopowe badania materiałów. Porównanie możliwości mikroskopii optycznej, skaningowej i transmisyjnej mikroskopii elektronowej do wybranych zastosowań. Zaawansowane metody badania własności mechanicznych,optycznych, elektrycznych i magnetycznych. Badania strukturalne materiałów nanokrystalicznych. Metody badania powierzchni. Mikroskop sił atomowych, skaningowy mikroskop tunelowy. Zaawansowane techniki dyfrakcji promieni rentgenowskich, dyfrakcji elektronów i neutronów. Zastosowanie metod mikroskopowych, dyfrakcyjnych i spektroskopowych do zaawansowanych badań strukturalnych w inżynierii materiałowej. Zastosowanie sieci odwrotnej i konstrukcji sfery Ewalda do metod dyfrakcyjnych. Wykorzystanie czynnika strukturalnego do badania przemian strukturalnych. Wysokorozdzielcza mikroskopia elektronowa. Metoda zbieżnej wiązki elektronów.
- Methods of evaluation:
- Egzamin pisemny w sesji (2-godzinny)
- Exam:
- yes
- Literature:
- 1. S. Jaźwiński, Instrumentalne metody badań materiałów, Wydawnictwa Politechniki Warszawskiej, Warszawa 1988.
2. Z. Bojarski, Krystalografia, PWN, Warszawa 2007.
3. Z. Bojarski, H. Habla, M. Surowiec, K. Stróż, Krystalografia, PWN, Warszawa 2014.
4. L.A. Dobrzański, E. Hajduczek, Mikroskopia świetlna i elektronowa, PWN, Warszawa 1987.
5. Z. Bojarski, E. Łągiewka, Rentgenowska analiza strukturalna, PWN, Warszawa 1988.
- Website of the course:
- brak witryny
- Notes:
- Wykłady ilustrowane autorskimi wynikami badań z wykorzystaniem analizy krystalograficznej.
Effects of education
General academic profile - knowledge
- Charakterystyka W1
- -
Verification: -
Field of study related learning outcomes:
IM2_W05, IM2_W06, IM2_W08
Area of study related learning outcomes:
I.P7S_WG, III.P7S_WG.o
General academic profile - skils
- Charakterystyka U1
- -
Verification: -
Field of study related learning outcomes:
IM2_U19, IM2_U20, IM2_U01, IM2_U05, IM2_U08, IM2_U11, IM2_U13, IM2_U18
Area of study related learning outcomes:
I.P7S_UW, III.P7S_UW.2.o, III.P7S_UW.3.o, III.P7S_UW.1.o, I.P7S_UU, III.P7S_UW.4.o