Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Interferometria przemysłowa
Koordynator przedmiotu:
prof. dr hab. Marek Dobosz
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia II stopnia
Program:
Mechatronika
Grupa przedmiotów:
Obowiązkowe
Kod przedmiotu:
INFPM
Semestr nominalny:
3 / rok ak. 2013/2014
Liczba punktów ECTS:
4
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
1) Liczba godzin bezpośrednich 50, w tym: a) wykład - 15 b)laboratorium - 30 c) konsultacje - 3 d) zaliczenia - 2 2) Praca własna studenta 60, w tym: a) przygotowanie do zajęć laboratoryjnych - 10 b) zapoznanie się z literaturą - 15 c) opracowanie sprawozdań - 15 d) przygotowanie do zaliczeń - 20 suma: 110h (4 ECTS)
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
1) Liczba godzin bezpośrednich 49, w tym: a) wykład - 15 b)laboratorium - 30 c) konsultacje - 2 d) zaliczenia - 2 suma 50 (2 ECTS)
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
O charakterze praktycznym: b)laboratorium - 30 c) konsultacje - 2 a) przygotowanie do zajęć laboratoryjnych - 10 c) opracowanie sprawozdań - 15 suma: 57 (2 ECTS)
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład15h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium30h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Wymagana jest znajomość metrologii ogólnej oraz optyki fizycznej, w szczególności podstawowe informacje z zakresu interferencji.
Limit liczby studentów:
20
Cel przedmiotu:
Poznanie przemysłowych metod pomiarów wielkości geometrycznych opartych na wykorzystaniu interferometrii laserowej. Zapoznanie się ze specyfiką układów pomiarowych związanych z różnorodnymi zastosowaniami metrologicznymi. Poznanie istoty czynników wpływających na dokładność, umiejętność kompensacji błędów, właściwe dokonanie analizy błędów. Na ćwiczeniach laboratoryjnych student zdobywa praktyczne umiejętności pracy na komercyjnych interferometrach laserowych. Uzyskuje możliwość zrozumienia zjawisk przez obserwację zjawisk interferencyjnych na modelach dydaktycznych.
Treści kształcenia:
Istota interferencyjnych pomiarów długości. Lasery w zastosowaniach metrologicznych. Stabilizacja częstotliwości lasera. Zespoły optyczne interferometrów komercyjnych. Głowica interferometru laserowego. Interpolacja sygnałów interferencyjnych. Konfiguracje interferometrów pomiarowych. Parametry metrologiczne interferometrów laserowych Budżet niepewności pomiaru przemieszczeń. Oprogramowanie i procedury pomiarowe. Trakery laserowe. Przetworniki interferencyjne.
Metody oceny:
W:Testy zaliczeniowe po każdym dziale tematycznym. L: Zaliczenie testów i ocena realizacji zadań na ćwiczeniach.
Egzamin:
nie
Literatura:
1. Jóźwicki R Podstawy inżynierii fotonicznej Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej 2006 2. Patorski K. Interferometria laserowa z automatyczną analizą obrazu Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej; 2005 3. Hecht E; Optics; Addison-Weslay; 1998 4.Pedrotti F. L; Pedrotti L.S.Introduction to optics Prentence-Hall, Inc; 1993 5.Jakubiec W., Malinowski J., Metrologia wielkości geometrycznych WNT, Warszawa; 2004;
Witryna www przedmiotu:
http://zmiij.mchtr.pw.edu.pl/przedmiot.php?class_id=15&subj=4&page=5
Uwagi:
Brak

Efekty uczenia się

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Charakterystyka INFPM_W01
Poznanie przemysłowych metod pomiarów wielkości geometrycznych opartych na wykorzystaniu interferometrii laserowej.
Weryfikacja: Testy sprawdzające wiedzę
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_W08
Powiązane charakterystyki obszarowe: P7U_W, I.P7S_WG.o, III.P7S_WG
Charakterystyka INFPM_W02
Zapoznanie się ze specyfiką układów pomiarowych związanych z różnorodnymi zastosowaniami metrologicznymi.
Weryfikacja: Testy sprawdzające
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_W08
Powiązane charakterystyki obszarowe: P7U_W, I.P7S_WG.o, III.P7S_WG

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Charakterystyka INFPM_U01
student zdobywa praktyczne umiejętności pracy na komercyjnych interferometrach laserowych.
Weryfikacja: Zaliczenie ćwiczeń lab.
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_U17, K_U14, K_U15
Powiązane charakterystyki obszarowe: I.P7S_UW.o, III.P7S_UW.o, P7U_U
Charakterystyka INFPM_U02
Praktyczne poznanie istoty czynników wpływających na dokładność, umiejętność kompensacji błędów, właściwe dokonanie analizy błędów.
Weryfikacja: Zaliczenie ćwiczeń lab.
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_U14, K_U15
Powiązane charakterystyki obszarowe: P7U_U, I.P7S_UW.o, III.P7S_UW.o

Profil ogólnoakademicki - kompetencje społeczne

Charakterystyka INFPM_K01
Umiejętność pracy w grupie
Weryfikacja: Zalczenie ćwiczeń lab.
Powiązane charakterystyki kierunkowe: K_K01, K_K04
Powiązane charakterystyki obszarowe: P7U_K, I.P7S_KK, I.P7S_KO, I.P7S_KR