- Nazwa przedmiotu:
- Systemy Pomiarowe 
- Koordynator przedmiotu:
- dr inż. Stanisław Piskorski 
- Status przedmiotu:
- Obowiązkowy
- Poziom kształcenia:
- Studia I stopnia
- Program:
- Mechatronika
- Grupa przedmiotów:
- Obowiązkowe
- Kod przedmiotu:
- SMP
- Semestr nominalny:
- 5 / rok ak. 2018/2019
- Liczba punktów ECTS:
- 3
- Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
- 1) Liczba godzin bezpośrednich:49, w tym:
•	wykład 30 godz., 
•	projektowanie w laboratorium 15 godz.,
•	konsultacje – 2 godz,
•	egzamin – 2 godz.
2) Praca własna studenta – 40
•	zapoznanie z literaturą 10 godz., 
•	projektowanie poza laboratorium 15 godz.,
•	 przygotowanie do egzaminu  15 godz.
Razem 89 godz.= 3 ECTS
- Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
- 2 punkty ECTS - Liczba godzin bezpośrednich:49, w tym:
•	wykład 30 godz., 
•	projektowanie w laboratorium 15 godz.,
•	konsultacje – 2 godz,
•	egzamin – 2 godz.,
- Język prowadzenia zajęć:
- polski
- Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
- 1 Punkt ECTS -  30 godz. w tym:
•	projektowanie w laboratorium 15 godz,
•	projektowanie poza laboratorium 15 godz.
- Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
- 
            
                - Wykład30h
- Ćwiczenia0h
- Laboratorium0h
- Projekt15h
- Lekcje komputerowe0h
 
- Wymagania wstępne:
- Wiedza z zakresu przedmiotów: Podstawy automatyki, Podstawy metrologii, Elektrotechnika, Elektronika
- Limit liczby studentów:
- 30
- Cel przedmiotu:
- Znajomość wybranych zagadnień z zakresu projektowania, konstrukcji oraz eksploatacji nowoczesnych systemów pomiarowych, ze szczególnym uwzględnieniem systemów przemysłowych.
- Treści kształcenia:
- Definicje. Klasyfikacja systemów pomiarowych.Schemat funkcjonalny systemu pomiarowego.  Bloki funkcjonalne systemów pomiarowych. Wirtualne przyrządy pomiarowe. Konfiguracje systemów pomiarowych.Organizacja systemu.Praktyczne aspekty współpracy urządzeń różnych producentów. Aspekty ekonomiczne w budowie systemu pomiarowego. Wykres Gantta. Sieć Perth. Zarządzanie ryzykiem w przedsięwzięciach przemysłowych.
- Metody oceny:
- Egzamin z treści wykładu oraz ocena na podstawie złożonych projektów
- Egzamin:
- tak
- Literatura:
- 1.W. Nawrocki „Sensory i systemy pomiarowe” WPP 2006. 2.Nawrocki „Rozproszone systemy pomiarowe” WKŁ 2006. 3.W.Winiecki “Organizacja komputerowych systemów pomiarowych” WPW 1997
- Witryna www przedmiotu:
- brak
- Uwagi:
Efekty uczenia się
    Profil ogólnoakademicki - wiedza
                    - Efekt SMP_W01
- Zna zasadę działania i budowę systemów pomiarowych
 Weryfikacja: zdanie egzaminu
 Powiązane efekty kierunkowe: 
                        K_W12
 Powiązane efekty obszarowe: 
                        T1A_W02
Profil ogólnoakademicki - umiejętności
                    - Efekt SMP_U01
- Potrafi zaprojektować system do pomiaru wybranych wielkości
 Weryfikacja: zaliczenie projektu
 Powiązane efekty kierunkowe: 
                        K_U01, K_U02, K_U13, K_U15, K_U21, K_U23
 Powiązane efekty obszarowe: 
                        T1A_U01, T1A_U02, T1A_U07, T1A_U08, T1A_U16, T1A_U09, T1A_U16, T1A_U12, T1A_U15, T1A_U14