- Nazwa przedmiotu:
  - Podstawy odwzorowań kartograficznych
 
    - Koordynator przedmiotu:
  - dr hab. inż. Paweł Pędzich
 
    - Status przedmiotu:
  - Obowiązkowy
 
    - Poziom kształcenia:
  - Studia I stopnia
 
    - Program:
  - Geodezja i Kartografia
 
    - Grupa przedmiotów:
  - Obieralne
 
    - Kod przedmiotu:
  - GK.SIK419
 
    - Semestr nominalny:
  - 4 / rok ak. 2014/2015
 
    - Liczba punktów ECTS:
  - 2
 
    - Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
  - 52 godz. (udział w wykładach: 15 x 1 godz.= 15 godz., udział w ćwiczeniach 15 x 1 godz. = 15 godz., przygotowanie do ćwiczeń 4 godz., realizacja ćwiczeń 8 godz., przygotowanie do zaliczeń 8 godz., 2 godz. konsultacji). Łączny nakład pracy studenta wynosi 52 godz., co odpowiada 2 punktom ECTS.
 
    - Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
  - 32 godz. (- udział w wykładach: 15 x 1 godz. = 15 godz., - udział w ćwiczeniach: 15 x 1 godz. = 15 godz., 2 godz. konsultacji.) Nakład pracy związany z zajęciami wymagającymi bezpośredniego udziału nauczyciela wynosi 32 godz., co odpowiada 1,2 punktu ECTS
 
    - Język prowadzenia zajęć:
  - polski
 
    - Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
  - 23 godz. (- udział w ćwiczeniach: 15 x 1 godz. = 15 godz., - realizacja ćwiczeń: 8 godz.). Łączny nakład pracy studenta wynosi 23 godz., co odpowiada 0.9 punktu ECTS.
 
    - Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
 
        - 
            
                - Wykład15h
 
                - Ćwiczenia15h
 
                - Laboratorium0h
 
                - Projekt0h
 
                - Lekcje komputerowe0h
 
            
         
    - Wymagania wstępne:
  - Student powinien posiadać podstawową wiedzę z zakresu analizy matematycznej, geometrii różniczkowej oraz funkcji zmiennych zespolonych. 
 
    - Limit liczby studentów:
  - -
 
    - Cel przedmiotu:
  - Student zdobywa wiedzę z zakresu kartografii matematycznej, w szczególności o odwzorowaniach kartograficznych stosowanych w geodezji i kartografii oraz ich własnościach. Ponadto umiejętność badania własności metrycznych odwzorowań kartograficznych, projektowania map z wykorzystaniem odwzorowań posiadających jak najmniejsze zniekształcenia odwzorowawcze, doboru typu odwzorowania w zależności od przeznaczenia mapy
 
    - Treści kształcenia:
  - Wykład: Wprowadzenie do przedmiotu kartografia matematyczna, pojęcie powierzchni oryginału w odwzorowaniu kartograficznym, układy współrzędnych. Pojęcie regularnego odwzorowania powierzchni w powierzchnię i odwzorowania kartograficznego. Elementy teorii zniekształceń odwzorowań kartograficznych: skala poszczególna, skala główna i elementarna skala zniekształceń odwzorowawczych. Elementarna skala zniekształceń długości jako funkcja kąta kierunkowego. I twierdzenie Tissota – pojęcie kierunków głównych odwzorowania. II twierdzenie Tissota – pojęcie elipsy zniekształceń odwzorowawczych. Ekstremalne zniekształcenia długości w kierunkach głównych odwzorowania. Elementarna skala zniekształceń pól. Pojęcie zbieżności południków, zniekształcenia kierunków i ekstremalne zniekształcenia kątów. Redukcje odwzorowawcze. Klasyfikacja odwzorowań kartograficznych w zależności od lokalnych zniekształceń odwzorowawczych. Klasyfikacja odwzorowań kartograficznych w zależności od kształtu siatek kartograficznych – klasa odwzorowań wielostożkowych. Odwzorowania ukośne i poprzeczne. Odwzorowania rzutowe (perspektywiczne). Podstawy teoretyczne odwzorowań konforemnych: współrzędne izometryczne, twierdzenie o odwzorowaniach konforemnych, elementarna skala długości w odwzorowaniach konforemnych i zbieżność południków. Ogólna charakterystyka odwzorowań kartograficznych stosowanych w geodezji i kartografii. Odwzorowania elipsoidy obrotowej na powierzchnię kuli. Odwzorowanie Gaussa-Krügera i jego postaci analityczne. Projekt: Konstrukcja siatki kartograficznej w zadanym odwzorowaniu. Badanie charakteru zniekształceń odwzorowawczych: długości, kierunków, kątów, powierzchni. Wyznaczanie redukcji odwzorowawczych figur geodezyjnych. 
 
    - Metody oceny:
  -  Zaliczenie wykładu: 2 sprawdziany pisemne na wykładzie. Zaliczenie ćwiczeń: sprawdzian pisemny oraz sprawozdania z ćwiczeń. 
Ocena końcowa: średnia arytmetyczna z ocen z wykładu i ćwiczeń projektowych.
 
    - Egzamin:
  - nie
 
    - Literatura:
  - 1 J. Balcerzak, J. Panasiuk: Wprowadzenie do kartografii matematycznej, Oficyna Wydawnicza PW 2005 
2. Jan Panasiuk, Jerzy Balcerzak, Urszula Pokrowska „Wybrane zagadnienia z podstaw teorii odwzorowań kartograficznych” Oficyna Wydawnicza PW 2000
3. J. Różycki: Kartografia matematyczna, PWN 1973 
4. Franciszek Biernacki „Podstawy teorii odwzorowań kartograficznych” 1973
5. Idzi Gajderowicz „Kartografia matematyczna dla geodetów” UWM 1999
6.. E.J. Maling: Coordinate systems and map projections, Pergamon Press, Oxford, 1992  
 
    - Witryna www przedmiotu:
  - -
 
    - Uwagi:
  - Brak
 
    Efekty uczenia się
    Profil ogólnoakademicki - wiedza
                    - Efekt GK.SIK419_W01
 
                    - zna podstawowe cechy układów współrzędnych stosowanych w opracowaniach urzędowych w Polsce, zna zasady konstruowania siatek kartograficznych oraz zasad wyznaczania zniekształceń i określania wartości redukcji odwzorowawczych
                        Weryfikacja: kolokwium
                        Powiązane efekty kierunkowe: 
                        K_W09
                        Powiązane efekty obszarowe: 
                        T1A_W03                     
                                    - Efekt GK.SIK419_W02
 
                    - zna podstawowe funkcje programów komputerowych umożliwiające przeprowadzenie obliczeń zniekształceń odwzorowawczych oraz prezentację tych zniekształceń na mapach
                        Weryfikacja: sprawozdanie z ćwiczeń
                        Powiązane efekty kierunkowe: 
                        K_W15, K_W16
                        Powiązane efekty obszarowe: 
                        T1A_W07, T1A_W05, T1A_W06, T1A_W07                     
                
Profil ogólnoakademicki - umiejętności
                    - Efekt GK.SIK419_U01
 
                    - Posiada umiejętność badania własności metrycznych odwzorowań kartograficznych oraz wyznaczania redukcji odwzorowawczych
                        Weryfikacja: kolokwium
                        Powiązane efekty kierunkowe: 
                        K_U09
                        Powiązane efekty obszarowe: 
                        T1A_U08, T1A_U09                     
                                    - Efekt GK.SIK419_U02
 
                    - Potrafi opracować wyniki obliczeń zniekształceń odwzorowawczych oraz zaprezentować je na mapach
                        Weryfikacja: sprawozdanie z ćwczeń
                        Powiązane efekty kierunkowe: 
                        K_U03
                        Powiązane efekty obszarowe: 
                        T1A_U03                     
                                    - Efekt GK.SIK419_U03
 
                    - Potrafi przeliczać współrzędne pomiędzy układami współrzędnych stosowanymi w opracowaniach urzędowych
                        Weryfikacja: sprawozdanie z ćwiczeń
                        Powiązane efekty kierunkowe: 
                        K_U09
                        Powiązane efekty obszarowe: 
                        T1A_U08, T1A_U09