Politechnika
Warszawska

Katalog
ECTS

Nazwa przedmiotu:

Elektronowa mikroskopia skaningowa i mikroanaliza rentgenowska/ Scanning Electron Microscopy

Koordynator przedmiotu:

Prof. dr hab. inż. Krzysztof Sikorski

Status przedmiotu:

Fakultatywny dowolnego wyboru

Poziom kształcenia:

Studia II stopnia

Program:

Inżynieria Materiałowa

Grupa przedmiotów:

Obieralne

Kod przedmiotu:

SEMiMAR

Semestr nominalny:

2 / rok ak. 2014/2015

Liczba punktów ECTS:

1

Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:

25 godzin, w tym obecność na wykładach - 15 godzin oraz samodzielna praca studenta - 10 godz.

Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:

0,6 punktu ECTS

Język prowadzenia zajęć:

polski

Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:

Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:

• Wykład15h
• Ćwiczenia0h
• Laboratorium0h
• Projekt0h
• Lekcje komputerowe0h

Wymagania wstępne:

Zaliczenie przedmiotów: „Metody Badania Materiałów”, „Zaawansowane metody Badania Materiałów”, „Struktura Stopów I i II”

Limit liczby studentów:

bez limitu

Cel przedmiotu:

Nabycie wiedzy o możliwościach badawczych współczesnej elektronowej mikroskopii skaningowej i mikroanalizy rentgenowskiej oraz praktycznego ich wykorzystania w inżynierii materiałowej

Treści kształcenia:

Kontrast topograficzny i jego wykorzystanie do badań fraktograficznych, oceny degradacji materiałów pod wpływem temperatury i obciążeń, oceny zmian mikrostruktury materiałów w wyniku korozji, badania proszków i cienkich warstw powierzchniowych. Obrazy EBSD i ich wykorzystanie do badań orientacji krystalitów i kąta dezorientacji pomiędzy ziarnami. Kontrast magnetyczny i jego wykorzystanie. Kontrast EBIC i jego wykorzystanie w badaniach elementów półprzewodnikowych. Kontrast napięciowy i jego wykorzystanie. Luminescencja katodowa i jej wykorzystanie. Wykorzystanie SEM w ekspertyzach poawaryjnych. Mikroanaliza faz i wtrąceń w badaniach materiałów. Metodyka badań procesów dyfuzyjnych i wyznaczanie współczynników dyfuzji. Specyfika analizy ilościowej składu chemicznego materiałów zawierających pierwiastki lekkie, jak: B, C, O, N, F. Badania niejednorodności materiałów. Analiza śladowa pierwiastków. Zastosowanie EPMA w badaniach degradacji materiałów pracujących w podwyższonych temperaturach. Wykorzystanie EPMA w ekspertyzach poawaryjnych. Metody badania mikroobszarów o wymiarach mniejszych od zdolności rozdzielczej metody (cienkie warstwy i układy wielowarstwowe osadzone na litych podłożach, mikroobszary położone przy granicy międzyfazowej, strefy dyfuzyjne z gradientem składu chemicznego, małe cząstki). Wykorzystanie symulacji Monte Carlo w mikroanalizie rentgenowskiej.

Metody oceny:

Zaliczenie

Egzamin:

nie

Literatura:

Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej (pod red. A. Szummera), WNT, Warszawa 1994 K. Sikorski, Mikroanaliza cienkich warstw i małych cząstek, Prace naukowe Politechniki Warszawskiej, Inżynieria materiałowa z. 11, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2000 K. Sikorski, Quantitative X-ray Microanalysis Beyond the Resolution of the Method, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2009 ISBN 978-83-7207-811-7

Witryna www przedmiotu:

brak

Uwagi:

Efekty uczenia się

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Efekt SEMiMAR_W1

Zna zasady wzbudzenia sygnałów elektronów wtórnych, wstecznie rozproszonych, prądu indukowanego, charakterystycznego promieniowania rentgenowskiego i luminescencji katodowej w ciałach stałych. Zna podstawy detekcji w/w sygnałów i podstawy ich doboru. Zna ich korelacje ze strukturą i składem chemicznym badanego materiału. Zna zasady doboru rodzaju sygnału do określonych zastosowań. Zna podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej. Zna wybrane przykłady zastosowań elektronowej mikroskopii skaningowej i mikroanalizy rentgenowskiej w badaniach materiałów.
Weryfikacja: zaliczenie
Powiązane efekty kierunkowe: IM2_W08
Powiązane efekty obszarowe: T2A_W04

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Efekt SEMiMAR_U1

Potrafi dobrać rodzaj sygnału emitowanego z próbki badanej elektronowym mikroskopem skaningowym oraz mikroanalizatorem rentgenowskim do określonych zastosowań. Potrafi dobrać warunki badań. Potrafi prawidłowo zinterpretować przykładowe wyniki badań.
Weryfikacja: kolokwium
Powiązane efekty kierunkowe: IM2_U10
Powiązane efekty obszarowe: T2A_U10