Nazwa przedmiotu:
Zaawansowane systemy diagnostyki obiektów technicznych
Koordynator przedmiotu:
dr inż. Anna Lewińska-Romicka
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia II stopnia
Program:
Mechatronika
Grupa przedmiotów:
Obowiązkowe
Kod przedmiotu:
brak
Semestr nominalny:
1 / rok ak. 2012/2013
Liczba punktów ECTS:
4
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
Wykład: 15, Laboratorium:15 przygotowanie do egzaminu+egzamin: 15 opracowanie załóżeń i schematu ideowego systemu do zaawansowanej kontroli wybranego obiektu technicznego: 55 suma: 100 (4 ECTS)
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
wykład: 15, laboratorium:15, konsultacje: 6, suma: 36 (1,5 ECTS)
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
Laboratorium: 15 (0,75 ECTS)
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład225h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium225h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Wymagane są: znajomość podstaw: fizyki, elektroniki, znajomość podstaw metod i technik badań nieniszczących, znajomość technik komputerowych
Limit liczby studentów:
30
Cel przedmiotu:
Poznanie zasad pracy zaawansowanych systemów diagnostyki obiektów technicznych, pracujących przy wykorzystaniu różnych metod badań nieniszczących. Uzyskanie interdyscyplinarnej wiedzy, stanowiącej połączenie aspektów podstaw fizycznych nieniszczących badań materiałów obiektów technicznych, sensorów i elektronicznych układów zaawansowanych systemów kontroli oraz oprogramowania do akwizycji i analizy wyników badań, a także wiedzy odnośnie nieciągłości technologicznych i uszkodzeń eksploatacyjnych materiałów różnorodnych obiektów, w tym materiałów kompozytowych. Poznanie systemów stosowanych do badania obiektów w eksploracji przestrzeni kosmicznej, w przemyśle lotniczym, hutniczym, mechanicznym, samochodowym i energetycznym
Treści kształcenia:
Wprowadzenie - materiały i obiekty badane, nieciągłości materiałów. Cel stosowania zaawansowanych systemów nieniszczących badań materiałów. Informacja uzyskiwana w wyniku przeprowadzenia badań. Systemy do akustycznych badań materiałów. Systemy do ultradźwiękowych badań materiałów. Systemy do radiologicznych badań materiałów. Systemy do badań materiałów metodą prądów wirowych. Systemy do badań materiałów metodą upływu pola magnetycznego. Systemy do badań materiałów metodą termograficzną. Systemy do kompleksowych badań materiałów
Metody oceny:
Zaliczenie z treści wykładu oraz ocena pracy własnej studentów
Egzamin:
nie
Literatura:
1 J. Bruzda, J. Czuchryj: Kontrola radiograficzna złączy spawanych. Biuro Gamma, W-wa 2006; 2 J. Kielczyk: Radiografia przemysłowa. Techniki badania z obrazem cyfrowym. Biuro Gamma, W-wa 2006; 3 A. Lewińska-Romicka: Badania materiałów metodą prądów wirowych. Biuro Gamma, W-wa 2007; 4 A. Lewińska-Romicka: Badania nieniszczące. Podstawy defektoskopii. WNT, W-wa 2001; 5 W. Oliferuk: Termografia podczerwieni w nieniszczących badaniach materiałów i urządzeń. Biuro Gamma, W-wa 2007; 6 H. Madura (red.): Pomiary termowizyjne w praktyce. Praca zbiorowa. Agenda Wydawnicza PAKu. W-wa 2004; 7 D. Senczyk: Radiografia przemysłowa. Podstawy fizyczne. Biuro Gamma, W-wa 2005; 8 Źródła internetowe (wykaz stron dostępny podczas wykładu)
Witryna www przedmiotu:
brak
Uwagi:

Efekty uczenia się

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Efekt _W01
Zna zasady pracy, budowę i cele stosowania zaawansowanych systemów diagnostyki obiektów technicznych. Posiada interdyscyplinarną wiedzę na temat materiałów i obiektów badanych, i ich nieciągłości oraz specyfiki ich badań
Weryfikacja: wykład - zaliczenie, opracowanie założeń i schematu ideowego do badania wybranych obiektów
Powiązane efekty kierunkowe: K_W03
Powiązane efekty obszarowe: T2A_W03, T2A_W06

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Efekt _U01
Umie dobrać zaawansowany system diagnostyczny - dla konkretnego problemu badawczego
Weryfikacja: wykład - zaliczenie, opracowanie schematu ideowego zawansowanego systemu diagnostyki - do badania wybranych obiektów
Powiązane efekty kierunkowe: K_U08
Powiązane efekty obszarowe: T2A_U08, T2A_U11