Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Metrologia techniczna
Koordynator przedmiotu:
Doc. dr inż. Jan Tomasik
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia I stopnia
Program:
Mechatronika
Grupa przedmiotów:
Obowiązkowe
Kod przedmiotu:
MTCz
Semestr nominalny:
5 / rok ak. 2012/2013
Liczba punktów ECTS:
3
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
Wykład 13h, laboratorium 12h, przygotowanie do zajęć laboratoryjnych 6h, opracowanie sprawozdań 12h, przygotowanie do egzaminu 9h. Razem 52h =2 ECTS.
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
Wykład 13, ćwiczenia w laboratorium 12. Razem 25h = 1ECTS
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
Obecność w laboratorium 12h, przygotowanie do zajęć laboratoryjnych 6h, opracowanie sprawozdań 12. RAZEM 30h =1ECTS
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład15h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium15h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Podstawy metrologii, Pomiary i analiza wymiarowa, Miernictwo elektryczne i elektroniczne, Podstawy inżynierii fotonicznej. Wymagana znajomość podstaw projektowania urządzeń mechatroniki, podstaw technik wytwarzania oraz podstaw automatyki, robotyki i informatyki.
Limit liczby studentów:
30
Cel przedmiotu:
Znajomość budowy, działania i własności metrologicznych urządzeń pomiarowych oraz procedur i technik pomiarowych, ukierunkowanych na pomiary i kontrolę wymiarową, w tym mikro- i makrogeometrię powierzchni przedmiotów stosowanych przemyśle maszynowym, precyzyjnym, motoryzacyjnym, lotniczym, aparaturowym i sprzętu gospodarstwa domowego. Umiejętność tworzenia aparaturowych systemów stosowanych w kontroli jakości procesów i wyrobów.
Treści kształcenia:
Wykład: Analogowe przetworniki przemieszczeń i ich praktyczne zastosowanie. Współrzędnościowe maszyny pomiarowe - wiadomości podstawowe. Techniki pomiarów wybranych wielkości geometrycznych (pomiary kątów, pomiary gwintów, pomiary elementów o złożonych kształtach). Pomiary za pomocą mikroskopów, długościomierzy i wysokościomierzy Pomiary mikro- i makrogeometrii powierzchni. Laboratorium: Pomiary struktury geometrycznej powierzchni za pomocą profilometrów. Pomiary odchyłek okrągłości metodami odniesieniowymi i bezodniesieniowymi. Pomiary średnic otworów przy użyciu długościomierzy. Pomiary kątów metodami bezpośrednimi i pośrednimi. Pomiary gwintów. Pomiary elementu złożonego na mikroskopie warsztatowym i współrzędnościowej maszynie pomiarowej
Metody oceny:
Wykład: Egzamin zaliczony po uzyskaniu 40% ustalonych punktów. Laboratorium: Sprawdziany wstępne przed każdym ćwiczeniem. Zalicza ustalona liczba uzyskanych punktów za sprawdzian i za sprawozdanie z ćwiczenia. Przedmiot zalicza suma ustalonych punktów za egzamin i laboratorium.
Egzamin:
tak
Literatura:
1. W.Jakubiec, J.Malinowski: „Metrologia wielkości geometrycznych”. WNT. Warszawa, 2004. 2. E.Ratajczyk: „Współrzędnościowa technika pomiarowa”. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej. Warszawa,2005. 3. J.Arendarski, J.Gliwa-Gliwiński, Z.Jabłoński, E.Ratajczyk, J.Tomasik, S.Żebrowska-Łucyk: „Sprawdzanie przyrządów do pomiaru długości i kąta”. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej. Warszawa, 2003. 4. J.Arendarski: „Niepewność pomiarów”. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej. Warszawa, 2003. 5. M.Wieczorowski, A.Cellary, J.Chajda: Przewodnik po pomiarach nierówności powierzchni czyli o chropowatości i nie tylko”. Wyd. Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych. Politechnika Poznańska. Poznań, 2003. 6. S. Adamczak: „Pomiary geometryczne powierzchni”. WN-T, 2008..
Witryna www przedmiotu:
Brak
Uwagi:
Brak

Efekty uczenia się

Profil ogólnoakademicki - wiedza

Efekt MTE_W01
Znajomość budowy, działania i własności metrologicznych urządzeń pomiarowych wielkości geometrycznych
Weryfikacja: Egzamin i zaliczenie laboratorium
Powiązane efekty kierunkowe: K_W10, K_W11
Powiązane efekty obszarowe: T2A_W02, T2A_W04, T1A_W02, T1A_W03
Efekt MTE_ W02
Znajomość budowy przetworników pomiarowych wielkości geometrycznych stosowanych w urządzeniach mechatroniki
Weryfikacja: Egzamin i zaliczenie laboratorium
Powiązane efekty kierunkowe: K_W11
Powiązane efekty obszarowe: T1A_W02, T1A_W03

Profil ogólnoakademicki - umiejętności

Efekt MTE_U01
Opanowanie procedur i technik w zakresie realizacji pomiarów wielkości geometrycznych
Weryfikacja: Egzamin i zaliczenie laboratorium
Powiązane efekty kierunkowe: K_U11, K_U13, K_U15
Powiązane efekty obszarowe: T1A_U02, T1A_U08, T1A_U09, T1A_U08, T1A_U16, T1A_U09, T1A_U16
Efekt MTE_U02
Opanowanie podstawowych umiejętności w zakresie opracowania wyników pomiarów w szczególności wielkości geometrycznych
Weryfikacja: Egzamin i zaliczenie laboratorium
Powiązane efekty kierunkowe: K_U11
Powiązane efekty obszarowe: T1A_U02, T1A_U08, T1A_U09

Profil ogólnoakademicki - kompetencje społeczne

Efekt MTE_K01
Potrafi pracować w zespole
Weryfikacja: Zaliczenie laboratorium
Powiązane efekty kierunkowe: K_K04
Powiązane efekty obszarowe: T1A_K03, T1A_K04, T1A_K05