Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Podstawy technik badań urządzeń precyzyjnych
Koordynator przedmiotu:
dr inż. Maciej Bodnicki, dr inż. Jakub Wierciak
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia I stopnia
Program:
Mechatronika
Grupa przedmiotów:
Obowiązkowe
Kod przedmiotu:
Semestr nominalny:
7 / rok ak. 2010/2011
Liczba punktów ECTS:
2
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład15h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium0h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Wymagana jest znajomość wybranych zagadnień z zakresu podstaw metrologii, podstaw konstrukcji urządzeń precyzyjnych, podstaw miernictwa elektrycznego, napędów elektrycz-nych
Limit liczby studentów:
Cel przedmiotu:
Poznanie metodyki i zasad prowadzenia eksperymentu fizycznego wspomagającego prace inżynierskie. Umiejętność posługiwania się systemami pomiarowymi. Znajomość podsta-wowych technik wyznaczania charakterystyk użytkowych wybranych podzespołów urządzeń precyzyjnych. Znajomość uniwersalnego oprogramowania systemów pomiarowych.
Treści kształcenia:
Obiekty badań i struktury stanowisk badawczych: zakres i specyfika badań sprzętu precyzyjnego i drobnego. Projektowanie struktury systemu pomiarowego. Elementy składowe systemu. Źródła informacji nt. komponentów systemów pomiarowych. Dokumenty normatywne. Metody wyznaczania charakterystyk statycznych i dynamicznych aktywatorów: wyznaczanie właściwości statycznych i dynamicznych silników skokowych, mikrosilników prądu stałego - o ruchu obrotowym i liniowym, elektromagnesów. Badania podzespołów transmisji mocy (sprzęgieł i przekładni) – badania dokładności kinematycznej i sprawności chwilowej. Metody bezczujnikowe: wyznaczanie charakterystyk mechanicznych na podstawie sygnałów elektrycznych. Metody bezkontaktowe – wykorzystanie kamer i przetworników optoelektronicznych. Metody fuzji danych z czujników.
Metody oceny:
punktacja z 2 kolokwiów i 6 ćwiczeń lab.
Egzamin:
Literatura:
Praca zbiorowa pod redakcją W. Jaszczuka: Mikrosilniki elektryczne. Badanie właściwości statycznych i dynamicznych. Państwowe Wydawnictwo Naukowe. Warszawa, 1991. Praca zbiorowa pod red. W. Oleksiuka: Konstrukcja przyrządów i urządzeń precyzyjnych. Wydawnictwa Naukowo-Techniczne. Warszawa, 1996. Rydzewski J.: Pomiary oscyloskopowe. WNT, Warszawa 1999 Gajda J., Szyper M.: Modelowanie i badania symulacyjne systemów pomiarowych. Jartek, Kraków, 1998 Dokumentacja techniczna firm Tektronix, HP, Advantech, National Instruments Rak R.J. Wirtualny przyrząd pomiarowy - realne narzędzie współczesnej metrologii, OWPW, Warszawa, 2003 Nawrocki W.: Sensory i systemy pomiarowe, WPP, Poznań, 2006
Witryna www przedmiotu:
Uwagi:

Efekty uczenia się