- Nazwa przedmiotu:
- Mikroanaliza cienkich warstw i małych cząsteczek
- Koordynator przedmiotu:
- Prof. dr hab. inż. Krzysztof Sikorski
- Status przedmiotu:
- Fakultatywny dowolnego wyboru
- Poziom kształcenia:
- Studia II stopnia
- Program:
- Inżynieria Materiałowa
- Grupa przedmiotów:
- Obieralne
- Kod przedmiotu:
- MCWiMC
- Semestr nominalny:
- 3 / rok ak. 2012/2013
- Liczba punktów ECTS:
- 1
- Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
- 25 godz, w tym: obecność na wykładach - 15 godz oraz samodzielna praca studenta - 10 godz.
- Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
- 0,6 punktu ECTS
- Język prowadzenia zajęć:
- polski
- Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
- Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
-
- Wykład15h
- Ćwiczenia0h
- Laboratorium0h
- Projekt0h
- Lekcje komputerowe0h
- Wymagania wstępne:
- Zaliczenie przedmiotów: „Metody Badania Materiałów”, „Zaawansowane metody Badania Materiałów”, „Struktura Stopów I i II”
- Limit liczby studentów:
- bez limitu
- Cel przedmiotu:
- Nabycie wiedzy o sposobach ilościowego badania składu chemicznego i grubości cienkich warstw (od kilku nanometrów wzwyż) osadzonych na litych podłożach metodą ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej oraz lokalnego składu chemicznego cienkich folii przy wykorzystaniu elektronowego mikroskopu transmisyjnego wyposażonego w spektrometr EDXS oraz praktycznego ich wykorzystania.
- Treści kształcenia:
- Rozdzielczość przestrzenna mikroanalizy rentgenowskiej - podstawowe definicje i zależności ,wpływ składu chemicznego, fluorescencji wtórnej, i warunków pomiarowych na rozdzielczość. Mikroanaliza rentgenowska obszarów leżących przy granicy międzyfazowej – metodyka badań, metody korekcji i zastosowanie. Mikroanaliza rentgenowska stref dyfuzyjnych o ciągłej zmianie składu chemicznego – metodyka badań, metody korekcji i zastosowanie. Mikroanaliza rentgenowska cienkich powłok i układów wielowarstwowych osadzonych na litych podłożach – metodyka badań, metody korekcji i przykłady i zakres zastosowania. Mikroanaliza rentgenowska małych cząstek - metody analizy cząstek swobodnych i cząstek występujących w osnowie, procedury eksperymentalne, dokładność, zastosowanie. Mikroanaliza rentgenowska cienkich folii przy wykorzystaniu TEM – procedury eksperymentalne, metody korekcji wyników, zdolność rozdzielcza, dokładność analiz, przykłady zastosowania.
- Metody oceny:
- Zaliczenie
- Egzamin:
- nie
- Literatura:
- Podstawy ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej (pod red. A. Szummera), WNT, Warszawa 1994 K. Sikorski, Mikroanaliza cienkich warstw i małych cząstek, Prace naukowe Politechniki Warszawskiej, Inżynieria materiałowa z. 11, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2000
K. Sikorski, Quantitative X-ray Microanalysis Beyond the Resolution of the Method, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa 2009 ISBN 978-83-7207-811-7
- Witryna www przedmiotu:
- brak
- Uwagi:
Efekty uczenia się
Profil ogólnoakademicki - wiedza
- Efekt MCWiMC_W1
- Zna czynniki wpływające na przestrzenną zdolność rozdzielczą mikroanalizy rentgenowskiej. Zna zasady korekcji wyników ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej mikroobszarów próbki leżących przy granicach międzyfazowych. Zna zasady korekcji wyników ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej mikroobszarów w których skład chemiczny nie jest stały (np. stref dyfuzji). Zna zasady korekcji wyników ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej powłok i układów wielowarstwowych o grubościach mniejszych od rozdzielczości metody. Zna zasady korekcji wyników ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej pojedynczych cząstek i elementów mikrostruktury próbek litych mniejszych od rozdzielczości tej metody. Zna zasady korekcji wyników ilościowej mikroanalizy rentgenowskiej cienkich folii dla TEM.
Weryfikacja: kolokwium
Powiązane efekty kierunkowe:
IM2_W08
Powiązane efekty obszarowe:
T2A_W04
Profil ogólnoakademicki - umiejętności
- Efekt MCWiMC_U1
- Potrafi dobrać właściwą metodę korekcji dla różnorodnych przypadków mikroanalizy ilościowej mikroobszarów próbki litej i cząstek o wymiarach mniejszych od zdolności rozdzielczej metody. Potrafi dobrać warunki właściwe warunki badań dla tych przypadków.
Weryfikacja: kolokwium
Powiązane efekty kierunkowe:
IM2_U08, IM2_U10
Powiązane efekty obszarowe:
T2A_U08, T2A_U10