Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Metody diagnostyki elementów elektronicznych
Koordynator przedmiotu:
dr inż. Jan Gibki
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia I stopnia
Program:
Zarządzanie i Inżynieria Produkcji
Grupa przedmiotów:
Technologie Elektroniczne
Kod przedmiotu:
MEDEL
Semestr nominalny:
3 / rok ak. 2010/2011
Liczba punktów ECTS:
3
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład15h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium15h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
Elementy elektroniczne
Limit liczby studentów:
Cel przedmiotu:
Oczekiwanym efektem kształcenia jest opanowanie przez studentów umiejętności posługiwania się elektrycznymi metodami diagnostyki współczesnych elementów elektronicznych ze szczególnym zwróceniem uwagi na elementy półprzewodnikowe.
Treści kształcenia:
1. Cel diagnostyki elementów elektronicznych. Modele matematyczno-fizyczne wykorzystywane do opisu elementów półprzewodnikowych. 2. Podstawowa aparatura pomiarowa wykorzystywana do wyznaczania parametrów stałoprądowych i częstotliwościowych elementów elektronicznych. 3. Wpływ temperatury na właściwości elementów półprzewodnikowych. 4. Kondensator MOS jako narzędzie diagnostyczne technologii wytwarzania i jakości elementów półprzewodnikowych. 5. Podstawowe elektryczne metody wyznaczania parametrów specyficznych dla elementów półprzewodnikowych. 6. Wybrane elementy pomiarów i diagnostyki analogowych układów scalonych. 7. Wyznaczanie parametrów wybranych cyfrowych układów scalonych. 8. Problemy stabilności długoczasowej. Badania środowiskowe. Niezawodność złożonych systemów elektronicznych
Metody oceny:
Dwa kolokwia sprawdzające i zaliczenie zajęć laboratoryjnych.
Egzamin:
Literatura:
1. W. Marciniak, Przyrządy półprzewodnikowe, WNT 1976. 2. W. Marciniak, Modele elementów półprzewodnikowych, WNT 1985. 3. J. Baranowski, i inni, Układy elektroniczne, cz. I-III, WNT 1998. 4. J. Porębski, P. Korohoda, Spice program analizy nieliniowej układów elektronicznych, WNT 1996. 5. S. Cristoloveanu, S.S. Li, Electrical Characterization Of Silicon-On-Insulator Materials And Devices, Kluwer 1995.
Witryna www przedmiotu:
Uwagi:

Efekty uczenia się