Drukuj Eksport do pliku (MS Word)
Nazwa przedmiotu:
Uzysk i niezawodność w elektronice
Koordynator przedmiotu:
Prof. nzw. dr hab. Bohdan Butkiewicz
Status przedmiotu:
Obowiązkowy
Poziom kształcenia:
Studia I stopnia
Program:
Zarządzanie i Inżynieria Produkcji
Grupa przedmiotów:
Technologie Elektroniczne
Kod przedmiotu:
UZNIE
Semestr nominalny:
6 / rok ak. 2009/2010
Liczba punktów ECTS:
1
Liczba godzin pracy studenta związanych z osiągnięciem efektów uczenia się:
Liczba punktów ECTS na zajęciach wymagających bezpośredniego udziału nauczycieli akademickich:
Język prowadzenia zajęć:
polski
Liczba punktów ECTS, którą student uzyskuje w ramach zajęć o charakterze praktycznym:
Formy zajęć i ich wymiar w semestrze:
  • Wykład15h
  • Ćwiczenia0h
  • Laboratorium0h
  • Projekt0h
  • Lekcje komputerowe0h
Wymagania wstępne:
brak
Limit liczby studentów:
Cel przedmiotu:
Zapoznanie studentów z metodami oceny niezawodności elementów, urządzeń i systemów elektronicznych, sposobem projektowania niezawodnych elementów i urządzeń oraz podstawowymi metodami kontroli, monitorowania i sterowania jakością produkcji.
Treści kształcenia:
1.Pojęcia wstępne. Obszar sprawności. Uszkodzenia parametryczne i katastroficzne. Stan eksploatacyjny. Podstawowe pojęcia teorii niezawodności. Podstawowe modele i rozkłady uszkodzeń. (4g). 2. Badania niezawodności elementów. Metody przyspieszone. Identyfikacja mechanizmu uszkodzeń. (2g). 3. Projektowanie niezawodnych układów. Wpływ obciążeń elektrycznych, mechanicznych, temperatury, wilgotności, promieniowania i innych warunków środowiska na intensywność uszkodzeń elementów. Zagadnienia konstrukcyjne. Metody i programy zalecane przez armię USA (MIL-HDBK 217F) oraz NASA. (4g). 4. Zagadnienia kontroli jakości. Podstawowe plany badań statystycznej kontroli jakości, AQL. Badania statystyczne i odbiór gotowych wyrobów. Monitorowanie procesu technologicznego. Pojęcie uzysku produkcyjnego. Koszty produkcji a uzysk produkcyjny. (5g).
Metody oceny:
Zaliczenie
Egzamin:
Literatura:
1. Grabski F., Jaźwiński J., „Metody bayesowskie w niezawodności i diagnostyce”, WKŁ, 2009. 2. Grabski F., Jaźwiński J., „Funkcje o losowych argumentach w zagadnieniach niezawodności, bezpieczeństwa i logistyki”. WKŁ, 2009. 3. Horowitz P., Hill W., “Sztuka elektroniki”, cz. 1 i 2, WKŁ, 2009. Sztarski, M., „Niezawodność i eksploatacja urządzeń elektronicznych, WKŁ, 1972 4. Military Handbook 217F, “Reliability prediction of electronic equipment”, Department of Defense, USA. 5. Jakubowski A., Marciniak W., Przewłocki H., “Diagnostic measurements in LSI/VLSI integrated circuits production”. Advance series in electrical and computer engineering, vol 7, World Scientific Publ. Co., 1991.
Witryna www przedmiotu:
Uwagi:

Efekty uczenia się